JEDEC计划放宽HBM高度限制:最高可至900微米

问AI · JEDEC调整将如何加速下一代HBM商业化进程?

去年4月,JEDEC固态技术协会发布了高带宽内存(HBM)DRAM新标准:HBM4。其中JEDEC固态技术协会放宽了HBM4在高度方面的要求,从过去HBM3E的720微米放宽至775微米,以便存储器制造商可以在现有的键合技术中实现16层堆叠,无需转向新的混合键合技术

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据TrendForce报道,随着HBM的迭代及性能要求的提升,JEDEC固态技术协会考虑再次放宽HBM的高度限制,可能提高至900微米。这是为了缓解存储器制造商的生产瓶颈,支持下一代HBM产品更快地进入大规模生产,不但能降低成本,也提升了良品率。

目前无论是三星TC NCF技术还是SK海力士的MR-RUF技术,都是使用凸块实现层与层之间的连接。要实现更多层数的堆叠,厚度必然会继续增加,现有的技术在原限定高度下很难实现这样的操作。混合键合技术不需要凸块,通过板载芯片和晶圆直接键合,让层与层之间更加紧密,以减少封装厚度。不过混合键合技术尚未完全成熟,而且相比现有的键合技术过于昂贵。

如果将HBM的高度要求放宽,那么利用现有技术就能支持更多层数。不过业界普遍认为,最终存储器厂商都不可避免地引入混合键合技术,这对于20层或以上的堆叠至关重要。JEDEC固态技术协会改变HBM的高度限制要求,一方面为混合键合技术争取到了更多的开发时间,另一方面也是为了加快下一代HBM的商业化进程。