近日,松山湖材料实验室第三代半导体团队与西安电子科技大学郝跃院士课题组张进成教授、李祥东教授团队,以及广东致能科技有限公司联合攻关,成功基于2~6英寸AlN单晶复合衬底制备了高性能GaN HEMTs晶圆。得益于AlN单晶复合衬底的材料优势 (位错密度居于2×108 cm-2数量级),AlGaN缓冲层厚度降至350 nm,外延成本大幅下降,且有效控制晶圆翘曲。这是我国在大尺寸新型衬底制备与应用方向取得的又一重大突破。
研究发现,AlN单晶复合衬底表面存在的Si、O杂质会造成寄生漏电通道,使得HEMTs器件无法正常关断。团队据此创新提出二次生长AlN埋层方法覆盖杂质层,使其在超宽禁带材料中无法离化,从而显著抑制漏电。实验结果显示,团队所提出的350 nm无掺杂超薄AlGaN缓冲层的横向击穿电压轻松突破10 kV,HEMTs器件关态耐压超8 kV,动态电流崩塌<20%,阈值电压漂移<10%,初步通过可靠性评估。
部分成果发表在器件领域顶刊IEEE TED(DOI: 10.1109/ISPSD59661.2024.10579573)以及ISPSD(DOI: 10.1109/ISPSD59661.2024.10579573)。
松山湖材料实验室第三代半导体团队
第三代半导体团队孵化于北京大学王新强教授团队,目前致力于氮化铝单晶复合衬底的研发、中试生产与应用,团队已成功实现2~8英寸氮化铝单晶复合衬底,位错密度居于108 cm-2数量级,表面粗糙度<1 nm,且针对性开发出应力调控方案;产品均匀性优异并成功实现其在紫外LED、功率电子器件与高频MEMS器件的应用验证。
西安电子科技大学广州第三代半导体创新中心
广东致能科技有限公司
本文来自:《化合物半导体》。