光学声子软化,是凝聚态物理中非常重要的现象,与材料介电常数、晶体结构相变、铁电性相变、热电材料的热导率等重要领域相关。
但长期以来理论认为,光学声子软化的产生会同时引发材料的界面退极化效应,严重限制材料在纳米尺度器件大规模集成的实际应用。
近日,中国科学院半导体研究所提出一种光学声子软化新理论,能避免过去八十年来理论认为无法克服的界面退极化效应,有望以源头理论创新,推动高密度电子器件的设计与研发,该成果发表于《自然》。
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传统认知中的双刃剑
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反常中获得新突破
基于这一发现,科研人员创新性地提出,通过拉升原子键降低化学键强度实现光学声子软化的新理论。由于这一光学声子软化驱动的铁电相变不依赖于强库仑作用,因此可以有效避免界面退极化效应。
离子半径差异、应变、掺杂、晶格畸变等现有的常规、成熟路径,都可以拉升原子键长度降低原子键强度。也就是说,这一光学声子软化方案具备从理论转向应用的实现基础。
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新技术应时而生
来源:中国科学院半导体研究所
责任编辑:曹旸