金融界2024年10月17日消息，国家知识产权局信息显示，超聚变数字技术有限公司申请一项名为“一种测试设备及测试方法”的专利，公开号 CN 118779169 A，申请日期为2024年6月。
专利摘要显示，本申请实施例提供一种测试设备及测试方法，测试设备包括：操控平台、夹持结构和测试夹具；测试夹具，用于插接被测单板的高速串行计算机扩展总线标准PCIE槽位；测试夹具还用于连接示波器；夹持结构，用于固定测试夹具，并接收操控平台的按键指令，根据按键指令在测试夹具上完成对应的按键次数操作；不同的按键次数对应不同的PCIE档位不同的PCIE档位具有不同的速率；示波器，用于从测试夹具捕获PCIE发送信号；示波器或操控平台，用于对示波器捕获的PCIE发送信号进行分析。本申请实施例提供的测试设备能够自动实现对PCIE链路进行信号质量的测试，提高测试效率。