ASIC设计中的标准单元standard cell

标准单元standard cell是ASIC设计流程中作为基本构建块使用的定义明确和预先表征pre-characterized的单元。

注:这个表征也就是我们通常所说的K库。


所有这些cell的高度相等,可以轻松放入标准单元行row中,并节省了大量ASIC设计时间。

标准单元的布局

所有标准单元的高度都相同。在下图的帮助下,对标准单元的主要特征进行解释。


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标准单元布局样式


在标准单元的顶部,有VDD rail,底部有VSS rail。两个电源导轨都拉入Metal-1层。在VDD rail和VSS rail之间有三个主要区域,一个nwell区域、一个nwell和pwell区域的间隙。nwell区域靠近VDD rail,pwell区域靠近VSS rail。pMOS晶体管建在nwell内部,因此所有pMOS晶体管都在cell的上半部分,同样,所有nMOS都在标准单元的下半部分。


原理图的布局可以用各种方式绘制。例如,NAND门的布局可以按照以下两种不同的风格绘制。


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NAND门的示意图



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NAND门的布局


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NAND门的布局


上面的三张图片显示了NAND门的原理图,以及这个原理图的两种不同布局。


第一个布局图中,两个nMOS都不在同一高度,但在第二个布局中,所有nMOS都处于一个高度,所有pMOS都处于一个级别。


第二个布局图这样的风格有很多优势:

1.节省面积:对于所有标准单元来说,nwell和pwell都处于同一水平,因此它们可以轻松地形成一个共同的井,从而节省了许多面积。

2.APR工具的轻松放置:所有标准单元的高度相同,可以轻松地安装到标准单元行中,因此APR(Automatic Place and Route)可以轻松执行。它们还为所有标准单元在同一位置设有power rail,因此电源也可以轻松连接。

3.易于路由:标准单元的所有引脚都位于水平tracks和垂直tracks的交叉点,因此通过APR工具可以轻松路由它们。


标准单元中的tracks:

tracks可以被定义为绘制金属层的线。tracks意味着一个M1间距。标准单元的高度通常以其内部的tracks数来衡量。就像6T标准单元意味着标准单元的高度是M1的6 tracks。下图给出了13T标准单元的示例。


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13T高度标准单元



在上述示例中,一条track的高度为190纳米。因此,cell的总高度为13T = 2470 nm(13 x 190),宽度为5T = 950 nm(5 x 190)。

各种高度的标准单元库:

一般来说,有各种标准单元库,具有不同标准单元的tracks数量。通常有三组标准单元库,其特征是小晶体管标准单元、大晶体管标准单元和中晶体管标准单元。6T、12T和9T尺寸标准单元的示例如下所示。



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标准单元的不同高度



小型晶体管标准单元用于高密度设计,这些cell功耗低。大型晶体管标准单元面积大,但性能非常好。中型晶体管标准电池在大晶体管和小晶体管之间trade off。因此,面积/功耗与性能之间存在trade off。下图显示了一个比较。


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不同高度标准单元的性能和面积之间的权衡



这些cell的各种应用如下。

  • 小型晶体管cell(6T cell)

    • 最小面积和低功耗

    • 移动应用

    • 超低功耗应用

    • 嵌入式微控制器

  • 大型晶体管cell(12T cell)

    • 大面积

    • 高性能和速度

    • 高速计算

    • 关键模块

  • 中晶体管cell(9T cell)

    • 平衡面积和性能

    • 通用计算

    • 图形处理器

    • 通用电路